Testarea semiconductorilor Pogo Pin

Testarea semiconductorilor pin Pogo

După ce vaferul semiconductor a finalizat procesul de fabricație, fiecare cip trebuie testat funcțional, iar cipurile necalificate sunt marcate pentru a evita ambalarea la capătul din spate. Acest tip de test trebuie să transmită semnale printr-o serie de conexiuni, de la cip prin conectorul de testare a sondei cardului sondei și placa de circuite la mașina de testare automată, conectorul de testare a pinului pogo (turnul sondei) este o parte vitală în mijloc. secțiunea, Pentru a asigura o transmisie stabilă a semnalului pentru a obține rezultate precise și stabile ale testului de cip. Pe măsură ce cipurile devin mai sofisticate și au din ce în ce mai multe funcții, cerințele pentru testare sunt din ce în ce mai mari. Conectorii existenți de testare a pinii pogo nu mai pot îndeplini testul cipurilor cu funcții multiple și ieșiri multiple.

În același timp, conectorii existenți de testare a semiconductorilor folosesc numai pini Pogo de testare a semiconductorilor cu 3000-pini, iar domeniul de aplicare este supus multor restricții.

Tehnologia de bază a pinului Pogo pentru testul arcului Semiconductor este capacitatea de procesare și asamblare fine, care implică echipament de procesare fină, experiență și capacitate de proces.

Arcul din pinul pogo de testare este un factor cheie în durata de viață a sondei de testare. Arcul galvanizat are o durată de viață lungă, nu va rugini și poate îmbunătăți, de asemenea, durabilitatea și conductibilitatea sondei de testare.

Tag-uri populare: testarea semiconductorilor pogo pin, China, furnizori, producători, fabrică, personalizat, en-gros, cumpărare, vrac, în stoc, probă gratuită